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| GE检测控制技术参展中国半导体展览会Semicon 2012 GE检测控制技术参加了在上海举办的2012年中国半导体展览会Semicon China。现场向观众展示GE的高性能X射线检测系统，这是一款GE https://news.ca168.com/201203/5316.html 2012-03-23 |
| 施耐德首次亮相上海SEMICON China2012展览会 SEMICON CHINA 2012 展览会于3月21日至22日在上海新国际博览中心隆重拉开帷幕，作为中国半导体、太阳能光伏、平板显示、LED产业的顶级盛宴，本届展览会由商务部中国电子商会主办，北京三达经济技术合作开发中心、工业和信息化部共同承办。国内外半导体产业领袖齐聚一堂，以“合作的力量”为主题，出席本届展会开幕式主题演讲的有：SEMI全球总裁Dennis McGuirk，SEMI中国总裁Allen Lu博士，CECC副会长王林、被称为“中国太阳能光伏之父”的Martin Green。 https://news.ca168.com/201203/5313.html 2012-03-23 |
| 罗姆“全SiC”功率模块可降低损耗85％ 日本知名半导体制造商罗姆近期推出全SiC功率模块（额定1200V/100A）并投入市场，其材料全部由SiC（Silicon Carbide：碳化硅）构 https://news.ca168.com/201203/5311.html 2012-03-23 |
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