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| Wayne Kerr Electronics测控技术研讨会闪耀中国电子展 Wayne Kerr Electronics研讨会于2014年04月11日在深圳会展中心6号馆6C001举行。测控技术是建立在电路与计算机基础上的一门新兴技术。21世纪的测控将是一个开发的系统概念，信息交换共享这个时代主题也是测控系统的发展方向，所以，通过组建网络来形成使用测控系统已成为现代测控技术的发展趋势。 https://news.ca168.com/201404/29400.html 2014-04-16 |